उत्पाद परिचय
DX -50 हॉल इफेक्ट सिस्टम एक लैब-ग्रेड समाधान है जिसे अर्धचालक सामग्री के सटीक लक्षण वर्णन के लिए डिज़ाइन किया गया है। एक चर इलेक्ट्रोमैग्नेट और एक समर्पित dx -320 सोर्समीटर के साथ निर्मित, यह वाहक एकाग्रता, गतिशीलता, प्रतिरोधकता, हॉल गुणांक, और बहुत कुछ के तेज, सटीक माप को सक्षम करता है। इसका स्वचालित सॉफ्टवेयर परीक्षण और डेटा निर्यात को सरल बनाता है, जिससे यह विश्वविद्यालयों, आर एंड डी केंद्रों और सेमीकंडक्टर लैब्स के लिए आदर्श है। ग्राफीन, INP, GAN और SIC जैसी सामग्रियों के साथ संगत, यह प्रणाली कम और उच्च-प्रतिरोध दोनों नमूनों का समर्थन करती है। दीर्घकालिक उपयोग और विश्वसनीयता के लिए डिज़ाइन किया गया, यह उन्नत सामग्री अनुसंधान की मांग की जरूरतों को पूरा करता है।
DX -50 हॉल प्रभाव परीक्षण प्रणाली अर्धचालक उपकरणों और अर्धचालक सामग्री के विद्युत गुणों का अध्ययन करने के लिए उपयुक्त है। प्रायोगिक परिणाम स्वचालित रूप से सॉफ्टवेयर द्वारा गणना की जाती हैं, जिससे बल्क वाहक एकाग्रता, सतह वाहक एकाग्रता, गतिशीलता, प्रतिरोधकता, हॉल गुणांक, मैग्नेटो-प्रतिरोध, और बहुत कुछ जैसे मापदंडों के एक साथ निर्धारण की अनुमति मिलती है।
हॉल इफ़ेक्ट सिस्टम में एक इलेक्ट्रोमैग्नेट, उच्च-सटीक बिजली की आपूर्ति, कनेक्टिंग केबल, उच्च-परिशुद्धता निरंतर वर्तमान स्रोत, उच्च-सटीक वोल्टमीटर, गौसमीटर, मानक नमूने, नमूना बढ़ते ब्रैकेट और सिस्टम सॉफ्टवेयर शामिल हैं।

DX -320 प्रभाव मीटर विशेष रूप से इस इंस्ट्रूमेंट सिस्टम के लिए विकसित किया गया है जो एक निरंतर वर्तमान स्रोत और एक स्विच (एक छह-साढ़े माइक्रोवोल्टमीटर और एक हॉल-कॉम्प्लेक्स स्विचिंग रिले) को एक में इकट्ठा करता है। प्रयोग के कनेक्शन और संचालन को बहुत कम कर दिया। DX -320 को अकेले एक निरंतर स्ट्रीम और एक माइक्रोवोल्ट के रूप में इस्तेमाल किया जा सकता है।
हॉल प्रभाव माप प्रणाली के पैरामीटर
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भौतिक पैरामीटर |
वाहक एकाग्रता |
10 (cm {- 10} kmm} |
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गतिशीलता |
{{०}} .1 cm g/ volt*sec {{२}}} ⁸cm (/ volt*sec |
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प्रतिरोधकता सीमा |
10 oh ओम*सेमी - 10} oh ओम*सेमी |
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हॉल वोल्टेज |
1 uv - 3 v |
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हॉल गुणांक |
10 - 10} qmm// c |
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परीक्षण योग्य सामग्री प्रकार |
अर्धचालक सामग्री |
Sige, sic, inas, Ingaas, Inp, Algaas, Hgcdte और फेराइट सामग्री आदि। |
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कम प्रतिरोध सामग्री |
ग्राफीन, धातु, पारदर्शी ऑक्साइड, कमजोर रूप से चुंबकीय अर्धचालक सामग्री, टीएमआर सामग्री, आदि। |
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उच्च प्रतिरोध सामग्री |
अर्ध-अक्षत GAAS, GAN, CDTE, आदि। |
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सामग्री प्रवाहकीय कण |
टाइप पी और टाइप एन परीक्षण सामग्री का परीक्षण |
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चुंबकीय क्षेत्र का वातावरण |
चुंबक प्रकार |
परिवर्तनीय विद्युत चुम्बक |
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चुंबकीय क्षेत्र का परिमाण |
1070MT (पोल पिच 10 मिमी है) |
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समान क्षेत्र |
1% |
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वैकल्पिक चुंबकीय वातावरण |
प्रासंगिक चुंबकीय आकार के इलेक्ट्रोमैग्नेट को ग्राहकों की जरूरतों के अनुसार अनुकूलित किया जा सकता है |
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बिजली के पैरामीटर |
वर्तमान स्रोत |
50। 00 na - 50 {00 ma |
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वर्तमान स्रोत संकल्प |
0। 0001UA |
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वोल्टेज को मापना |
0 ~ ±3V |
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वोल्टेज माप समाधान |
0। 0001 mV |
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अन्य सहायक उपकरण |
लकीर खींचने की क्रिया |
बाहरी सहयोगी स्थापित प्रकाश-परिरक्षण भागों परीक्षण सामग्री को अधिक स्थिर बनाते हैं |
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नमूने का आकार |
अधिकतम 30 मिमी * 30 मिमी |
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बॉक्स कैबिनेट |
600*600*1000 मिमी |
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परीक्षण सामग्री |
सेमीकंडक्टर्स के इंस्टीट्यूट का हॉल इफ़ेक्ट, चीनी एकेडमी ऑफ साइंसेज स्टैंडर्ड टेस्ट सैंपल और डेटा: 1 सेट |
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ओमिक संपर्क बनाना |
इलेक्ट्रिक सोल्डरिंग आयरन, इंडियम चिप, सोल्डर, एनामेल्ड वायर, आदि। |
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परीक्षण शुरू होने के बाद मानव संचालन की आवश्यकता के बिना एक-बटन स्वचालित माप किया जा सकता है |
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सॉफ्टवेयर IV वक्र और बीवी वक्र प्रदर्शन कर सकता है |
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स्वचालित तापमान माप के लिए सॉफ्टवेयर में सेट करें |
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प्रयोगात्मक परिणाम मापा जाता है, और डेटा को सॉफ्टवेयर में अस्थायी रूप से सहेजा जाएगा। यदि दीर्घकालिक भंडारण की आवश्यकता होती है, तो बाद में डेटा प्रोसेसिंग को सुविधाजनक बनाने के लिए डेटा को एक्सेल तालिका में निर्यात किया जा सकता है। |
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हॉल प्रभाव मानक परीक्षण के नमूने और सेमीकंडक्टर्स इंस्टीट्यूट के डेटा प्रदान करें, चीनी विज्ञान अकादमी: 1 सेट |
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हॉल माप प्रणाली के परीक्षण योग्य नमूने


एसएdx -50 हॉल प्रभाव माप प्रणाली का mple चरण
डिलीवरी, शिपिंग और सेवारत
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