दो-आयामी चुंबकीय क्षेत्र जांच स्टेशन|परिशुद्धता वेफर-स्तरीय चुंबकीय परीक्षण समाधान
दो-आयामी चुंबकीय क्षेत्र जांच स्टेशनद्वाराज़ियामेन डेक्सिंग मैगनेट टेक। कंपनी लिमिटेड,के लिए डिज़ाइन किया गया हैसमतल और लंबवत चुंबकीय क्षेत्र माप में उच्च{{0}परिशुद्धतापरवेफर स्तर. यह चुंबकीय सामग्री, पतली फिल्मों, मल्टीलेयर्स और सेमीकंडक्टर उपकरणों पर काम करने वाले शोधकर्ताओं और इंजीनियरों के लिए एक उन्नत परीक्षण समाधान है।
मोटर चालित परिशुद्धता नियंत्रण और वास्तविक समय चुंबकीय प्रतिक्रिया के साथ निर्मित, यह जांच स्टेशन सुनिश्चित करता हैअसाधारण सटीकता, स्थिरता और लचीलापनप्रयोगशाला और औद्योगिक परीक्षण वातावरण के लिए।
प्रमुख विशेषताऐं
✅ दोहरी चुंबकीय क्षेत्र डिजाइन– दोनों उत्पन्न करता है-समतल और लंबवत चुंबकीय क्षेत्र मेंएक साथ अधिक व्यापक परीक्षण के लिए।
✅ उच्च परिशुद्धता मापन– उपलब्धि±1%@φ1mm की क्षेत्र एकरूपताऔररेजोल्यूशन 0.02mT से बेहतर.
✅ वेफर संगतता– समर्थन करता है12 इंच तक के वेफर्स, और इसके साथ पिछड़ा संगत है8 इंच और 6 इंच के चिप्स.
✅ एकाधिक जांच समर्थन– तक के साथ काम करता है7 जांच समूह(4 माइक्रोवेव + 3 डीसी)।
✅ मोटर चालित XY नियंत्रण- सटीक ±12.5 मिमी विस्थापन1μm समायोजन सटीकतास्थिर स्थिति के लिए.
✅ कुशल परीक्षण – त्वरित लिफ्ट Z-अक्ष प्लेटफ़ॉर्मसेटअप समय कम करता है और वर्कफ़्लो दक्षता में सुधार करता है।
✅ अपग्रेड करने योग्य डिज़ाइन- मैनुअल Z-अक्ष लिफ्ट को अपग्रेड करने का विकल्पमोटर चालित नियंत्रणउन्नत स्वचालन के लिए.
✅ लचीला चरण समायोजन- टिल्ट फाइन -ट्यूनिंग नॉब सुनिश्चित करता हैनमूना तल समानांतर रहता हैचुंबकीय क्षेत्र के लिए.
तकनीकी निर्देश
| पैरामीटर | विनिर्देश |
|---|---|
| नमूना | DX2PS |
| चुंबकीय क्षेत्र की दिशा | -समतल/लंबवत में |
| अधिकतम चुंबकीय क्षेत्र शक्ति | In-plane (X): >800 एमटी @12मिमी Vertical (Z): >140 एमटी |
| लंबवत फ़ील्ड घटक | <0.025% when in-plane field applied alone |
| एयर गैप एडजस्टेबिलिटी | नहीं |
| अधिकतम नमूना आकार | 40मिमी × 40मिमी |
| चुंबकीय ध्रुव गैप | 40 मिमी / 25 मिमी / 12 मिमी (वैकल्पिक) |
| समर्थित जांच | 7 सेट तक (3 डीसी + 4 माइक्रोवेव) |
| स्टेज मूवमेंट (XY) | ±12.5मिमी, 1μm सटीकता |
| स्टेज रोटेशन (टी) | ±5 डिग्री |
| माइक्रोस्कोप प्रकार | स्टीरियो/मोनोकुलर |
| क्षेत्र की एकरूपता | ±1%@φ1मिमी |
| क्षेत्र निगरानी सटीकता | <1% |
| फ़ील्ड संकल्प | <0.02mT |
अनुप्रयोग
दो-आयामी चुंबकीय क्षेत्र जांच स्टेशनइसके लिए आदर्श है:
- चुंबकीय सामग्री अनुसंधानऔरपतली-फिल्म चुंबकीय विश्लेषण
- सेमीकंडक्टर उपकरण विकासऔरमाइक्रोइलेक्ट्रॉनिक परीक्षण
- चुंबकीय बहुपरत लक्षण वर्णन
- वेफर-स्तरीय प्रदर्शन विश्लेषणउन्नत सामग्री के लिए
- अनुसंधान एवं विकास प्रयोगशालाएं और उत्पादन परीक्षण वातावरणउच्च परिशुद्धता की आवश्यकता है
डेक्सिंग मैगनेट टेक क्यों चुनें?
परज़ियामेन डेक्सिंग मैगनेट टेक। कंपनी लिमिटेड,, हम उन्नत इंजीनियरिंग, सिद्ध विश्वसनीयता और अनुकूलन लचीलेपन को जोड़ते हैं।
- ODM और OEM विनिर्माणवैश्विक ब्रांडों के लिए
- कस्टम कॉन्फ़िगरेशनविशिष्ट अनुसंधान आवश्यकताओं के आधार पर
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अक्सर पूछे जाने वाले प्रश्न
Q1: समर्थित अधिकतम वेफर आकार क्या है?
ए: जांच स्टेशन समर्थन करता है12 इंच तक के वेफर्स, और इसके साथ संगत भी है8 इंच और 6 इंच के चिप्स.
Q2: चुंबकीय क्षेत्र की निगरानी कितनी सटीक है?
ए: चुंबकीय क्षेत्र की निगरानी सटीकता है1% से बेहतर, के साथ0.02mT से अधिक महीन रिज़ॉल्यूशन.
Q3: क्या जांच चरण को उन्नत किया जा सकता है?
उत्तर: हाँ.मैनुअल Z-अक्ष लिफ्टहो सकता हैविद्युत नियंत्रण में उन्नत किया गयाउन्नत स्वचालन और दक्षता के लिए।
Q4: यह जांच स्टेशन किन उद्योगों या अनुप्रयोगों के लिए उपयुक्त है?
उत्तर: इसका व्यापक रूप से उपयोग किया जाता हैचुंबकीय सामग्री, अर्धचालक, और माइक्रोइलेक्ट्रॉनिक्सअनुसंधान और उत्पादन परीक्षण।
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